印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。
集成电路复杂度与性能要求的持续攀升,叠加设计、制造、封装及应用环节的潜在风险,导致短路、开路、漏电、烧毁、参数漂移等关键失效模式频发。这不仅造成昂贵的器件报废与系统宕机,更常引发设计方、代工厂、封测厂与终端用户间的责任争议,带来重大经济损失与信誉风险。
高分子材料性能要求持续提升,而客户对高要求产品及工艺的理解差异,导致断裂、开裂、腐蚀、变色等典型失效频发,常引发供应商与用户间的责任纠纷及重大经济损失。
金属构件服役环境日益苛刻,对材料性能和结构可靠性提出更高要求。然而,设计缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不当使用等因素,极易引发疲劳断裂、应力腐蚀开裂、氢脆、蠕变、磨损、过载变形等典型失效。
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美信检测在深圳、苏州和北京均建有实验基地,设立了多学科检测和分析实验室。公司基于材料科学工程和电子可靠性工程打造工业医院服务模式。
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2024美信检测深圳“芯聚智汇”技术沙龙圆满举办
发布时间:2024-08-22 00:00
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8月22日下午,阳光明媚,由深圳市美信检测技术股份有限公司(以下简称:美信检测)主办的“芯聚智汇”技术沙龙顺利举行,此次活动吸引了众多来自半导体领域的专家、学者及企业代表,共同探讨半导体分析技术的最新进展与未来趋势。


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本次“芯聚智汇”技术沙龙,美信检测旨在搭建一个激发新思想火花的舞台、深度对话与知识共享的盛宴,助力企业强化质量评估的核心能力,精准把握产品质量。


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本次“芯聚智汇”技术沙龙的重磅开场,由美信检测半导体事业部实验室负责人——游启全,以其超过十年的元器件检测分析领域深厚积淀,为我们徐徐揭开《FIB/TEM在半导体领域的应用》的神秘面纱。

游工以他独到的见解和生动的语言,将原本晦涩难懂的FIB与TEM的奥秘,转化为一场引人入胜的知识盛宴。


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紧接着,半导体事业部的总工程师崔风洲登台,以其卓越的技术实力和深厚的行业积淀,为大家带来了《缺陷精确定位方案解析》的权威解读。

崔总通过生动的案例和深入的分析,将半导体制造过程中的缺陷精确定位技术娓娓道来,为提升产品质量提供了宝贵的策略与洞见。


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随后,半导体事业部DPA组负责人覃菊芳,提出了《DPA及真伪鉴定》这个议题。在这个假冒伪劣产品泛滥的时代,覃工通过议题让与会者学会了如何练就一双识别真伪的“火眼金睛”,能够进一步提高来料的质量管控,从而提升产品整体质量。


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最后,半导体事业部可靠性工程师张雨,为大家阐述了《半导体可靠性评估方法》的精髓。

他详细介绍了半导体可靠性评估的科学流程和方法论,为打造更加可靠、稳定的半导体产品提供了有力支撑。


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活动结束,在专业工程师的亲自带领下,大家深入美信检测深圳市集成电路可靠性分析测试公共服务平台实验室内部,近距离接触了先进的实验设备和试验环境。与会者们走进美信检测半导体实验室和研发创新一线,近距离感受专业工程师的操作规范与流程。


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此次“芯聚智汇”技术沙龙的圆满举办,展现美信检测在半导体失效分析领域的技术实力与深厚行业积淀。作为国家级高新技术企业的典范,美信检测历经十二载精耕细作,凭借其自身的专业硬实力、卓越非凡的服务品质,成功助力数千家企业攻克了数以万计的复杂失效分析难关,赢得了业界的广泛赞誉与高度信赖。

 

我们专注于提供定制化、高效能的解决方案,依托强大的专业团队与精密尖端的检测设备,美信检测能够精准、迅速地响应各类产品品质提升的需求。我们不仅实现了检测周期的大幅度缩短,更通过深度洞察客户需求,量身打造出一系列高效、精准且超越客户期望的解决方案,致力于成为企业追求质量卓越道路上的坚实伙伴与可靠后盾。

 

展望未来,我们满怀憧憬,期待与您再次相聚!


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